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三大测量方法完美解决石英晶振电路匹配电容

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浏览:- 发布日期:2018-04-02 14:52:13【
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  石英晶体是一种很常见的频率控制元器件,选型时需要的参数有封装尺寸、频率、频率容许偏差,负载电容、工作温度、储存温度、老化率、激励功率等。负载电容是比较复杂而且特殊的一项参数,因为负载电容还要再匹配一个相应的外围电容。

  什么是SMD晶振匹配电容测试?如果系统由于晶体/振荡器不合适而不能正常工作,频率偏差不符合规范,则匹配测试是解决这些问题的有效方法.

A.振荡电路的测试方法

1.振荡频率的测量

JZDLPPDR1

2.驱动水平的测量

驱动电平等于运行石英贴片晶振的功耗。如图所示

下面,用电流探针测量流入晶体的电流(Ix)。

功率(驱动电平)的计算公式:

DL(功率)=(Ix)2×Re;其中Ix:有效电流值(rms),

Re:有效电阻,Re = R1 x(1 + C0 / CL)2,R1:串联电阻

JZDLPPDR2

3.负阻的测量

负阻用于确定石英晶体谐振器振荡电路的振荡容限

并预测振荡的稳定性。如下图所示,连接一个可变电阻

(VR)串联到晶体,然后逐渐增大电阻。水晶会的

停止振荡一定的值。

负阻(-R)的计算公式:

|-R| = VR + Re,Re = R1×(1 + C0 / CL)2,R1:串联电阻

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